試.jpg "硬度測(cè)試")
儀器.jpg "顯微鏡")
儀.jpg "質(zhì)構(gòu)儀、物性分析")
.jpg "橡膠制品測(cè)試")
機(jī).png "萬(wàn) 能試驗(yàn)機(jī)")
境試驗(yàn)箱.png "環(huán)境試驗(yàn)箱")
機(jī).jpg "進(jìn)口打標(biāo)機(jī)")
量?jī)x.jpg "厚度測(cè)量")
量?jī)x/測(cè)厚儀-reseto-方.jpg "粗糙度儀")
測(cè)量機(jī)/x5.jpg "長(zhǎng)度測(cè)量")
測(cè)儀器.jpg "表面光學(xué)檢測(cè)")
測(cè)量機(jī).jpg "三坐標(biāo)測(cè)量")
分析型掃描電鏡產(chǎn)品介紹
EVO 18 是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)。
標(biāo)配能譜儀和波譜儀（EDS & WDC）接口，另有用于高級(jí)形貌與化學(xué)分析的全集成式顆粒分析和識(shí)別解決方案可供選擇。通過(guò)升級(jí)LaB6高亮度光源將與X射線(xiàn)分析相關(guān)的探針電流性能提升至一個(gè)全新的水準(zhǔn)。
EVO 18 掃描電鏡的五象限背散射電子探測(cè)器（BSE）有助于增強(qiáng)低電壓性能及提供更豐富的形態(tài)信息。對(duì)于非導(dǎo)電樣品，電子束襯管技術(shù)可有效提高分辨率。
EVO 18 Research 是學(xué)術(shù)和研究機(jī)構(gòu)使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO 18 Research 為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)，具有處理多種材料的能力。結(jié)合SmartSEM 軟件的易用性，使其成為多種研究應(yīng)用的合適之選，范圍涵蓋半導(dǎo)體和電子技術(shù)、地質(zhì)科學(xué)及材料研究。
產(chǎn)品特點(diǎn)
? 業(yè)內(nèi)先進(jìn)的X射線(xiàn)幾何結(jié)構(gòu)以及標(biāo)配能譜儀和波譜儀（EDS & WDS）
? 五象限背散射電子探測(cè)器（BSE）為您提供更豐富的形態(tài)信息
? 可變電壓功能用于分析較少制備的非接觸式樣品
? 可移動(dòng)的顯微鏡樣品臺(tái)用于觀察大型樣品
? 配備鎢光源和可供選擇的LaB6 光源
? 優(yōu)質(zhì)的生產(chǎn)工藝，曾榮獲2011年英國(guó)最佳電子電氣工廠(chǎng)獎(jiǎng)以及歐特克產(chǎn)品與工藝大獎(jiǎng)
利用BSE探測(cè)器在5象限對(duì)濾紙的成像
分析型掃描電鏡技術(shù)參數(shù)
分辨力 | 3 nm (2 nm) @ 30 kV SE and W (LaB6) |
4 nm @ 30 kV VP mode | |
20 nm (9 nm) @ 1 kV SE and W (LaB6) | |
電壓 | 0.2 -30 kV |
探針電流 | 0.5 pA to 5 μA |
放大倍率 | < 5 - 1,000,000x |
視野 | 分析工作距離（AWD）為6 mm |
X射線(xiàn)幾何 | 8.5 mm AWD和35°起飛角 |
OptiBeam模式 | 分辨率，深度，分析，魚(yú)眼領(lǐng)域 |
壓力范圍 | 10 – 400 Pa |
可用的探測(cè)器 | ETSE - Everhart-Thornley二次電子探測(cè)器（標(biāo)配） |
BSD - 五段二極管背向散射電子探測(cè)器（標(biāo)配） | |
VPSE - 可變壓力二次電子探測(cè)器 | |
SCD - 試樣電流檢測(cè)器 | |
EDS - 能量色散譜儀 | |
WDS - 波長(zhǎng)色散光譜儀 | |
CL - 陰極發(fā)光檢測(cè)器 | |
STEM - 掃描透射電子顯微鏡檢測(cè)器 | |
工作室尺寸 | 365毫米（?）x 275毫米（高） |
5軸電動(dòng)試樣臺(tái) | X = 125 mm，Y = 125 mm Z = 50 mm電動(dòng)（最大樣品高度延伸至145 mm，在Z軸，傾斜和旋轉(zhuǎn)模塊已移除的情況下） T = -10 to 90°，R = 360°（連續(xù)） 通過(guò)鼠標(biāo)，操縱桿或控制面板控制工作臺(tái) |
未來(lái)的可升級(jí)路徑選項(xiàng) | BeamSleeve |
圖像幀庫(kù) | 分辨率：掃描速度為2或更高時(shí)，最高可達(dá)32k x 24k |
通過(guò)積分平均法來(lái)獲取信號(hào) | |
圖像顯示 | 高清晰屏幕 |
具有雙通道顯示功能 | |
系統(tǒng)操作 | SmartSEM ** GUI由鼠標(biāo)和鍵盤(pán)操作 |
多語(yǔ)言Windows?操作系統(tǒng) | |
實(shí)用需求 | 100 - 230 V，50或60 Hz單相 |
無(wú)需水冷 | |
操縱桿、鍵盤(pán)、美國(guó)控制面板和鼠標(biāo) |
注：*OptiBeam - 有源色譜柱控制，可實(shí)現(xiàn)最高分辨率，最大視野或最佳景深
* SmartSEM - 第六代SEM控制圖形用戶(hù)界面
分析型掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)配置
分析型掃描電鏡可選配件
分析型掃描電鏡相關(guān)視頻
暫時(shí)不能提供，如需要詳細(xì)資料，請(qǐng)主動(dòng)與我們聯(lián)系。
分析型掃描電鏡資料下載
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分析型掃描電鏡相關(guān)產(chǎn)品
儀器/日本Nikon顯微鏡/方JCM 6000臺(tái)式電子掃描顯微鏡.jpg "臺(tái)式電子掃描顯微鏡")
